Séminaire du jeudi 19/04/2012

localisation: 
Bat A10, Salle: ALC
Date: 
Jeudi, Avril 19, 2012 - 14:00 to 16:00

Présentation

Les séminaires problèmes inverses, co-organisés par l'IMS, l'IMB et le LaBRI, proposent des exposés scientifiques sur des sujets centrés sur les méthodes de traitement de données (signal, image,...) pour les problèmes inverses (reconstruction, restauration, imagerie...). Ils visent également à informer les collègues des sujets d'intérêt et des recherches en cours. Deux séries de trois séminaires sont organisées chaque année et réparties en sessions de printemps et d'automne. Chaque séminaire d'une série est tour à tour orchestré par l'un des co-organisateurs qui invite un membre de chacun des deux autres laboratoires.

Dans les disciplines "systèmes" comme les nôtres, on peut se faire une assez bonne idée de ce que l'on appelle "problème inverse" en le définissant à contrario d'un "modèle direct". Considérons un instrument de mesure au sens général du terme comme un système entrée-sortie classique : en entrée la quantité d'intérêt et en sortie les données mesurées. Naturellement, les instruments réels ont des limitations : bande limitée (en général passe-bas), résolution finie, temps de réponse non-nuls,... Ils fournissent donc des données dégradées à propos de l'objet d'intérêt. Un modèle de cet instrument incluant les dégradations constitue un "modèle direct". Le travail de l'inversion consiste à retrouver l'entrée à partir de la sortie. On comprend que lorsque le système direct fournit des données dégradées (filtrées passe-bas, bruitées, tronquées,...) l'inversion ne soit pas triviale et appelle des réflexions et développements spécifiques.

Les problèmes classiques concernent par exemple la restauration et la reconstruction de signaux ou d'images, la déconvolution et la super-résolution, la synthèse de Fourier, le réhaussement de contours ou de contrastes, la séparation de composantes. Dans une certaine mesure on peut aussi y faire entrer le débruitage et la segmentation... Les domaines d'application sont variés: médical (IRM, Scanner,...), moléculaire (protéomique, microscopie...), astrophysique (Herschel, Planck...), évaluation non destructive (Courant de Foucault, radiographie,...), radar (SAR, Doppler,...)...

Séminaire du jeudi 15/03/2012

localisation: 
IMB, Bat A33, Salle de conférence
Date: 
Jeudi, Mars 15, 2012 - 14:00 to 16:00

Séminaire du jeudi 16/02/2012

localisation: 
Bat A9, Salle: Amphi Kastler
Date: 
Jeudi, février 16, 2012 - 14:00 to 16:00

Séminaire du jeudi 15/12/2011

localisation: 
Amphi du LaBRI, Bat A30
Date: 
Jeudi, Décembre 15, 2011 - 14:00 to 16:00

Séminaire du jeudi 17/11/2011

localisation: 
IMB, Bat A33, Salle de conférence
Date: 
Jeudi, Novembre 17, 2011 - 14:00 to 16:00

Séminaire du jeudi 20/10/2011

localisation: 
Bat A9, Salle: Amphi Kastler
Date: 
Jeudi, Octobre 20, 2011 - 14:00 to 16:00

Séminaire du jeudi 09/06/2011

localisation: 
Amphi du LaBRI, Bat A30
Date: 
Jeudi, Juin 9, 2011 - 14:00 to 16:00

Séminaire du jeudi 05/05/2011

localisation: 
IMB, Bat A33, Salle de conférence
Date: 
Jeudi, Mai 5, 2011 - 14:00 to 16:00

Séminaire du jeudi 07/04/2011

localisation: 
IMS, Bat A31, Salle: Amphi J.-P. Dom
Date: 
Jeudi, Avril 7, 2011 - 14:00 to 16:00
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